Uvod u elektronsku mikroskopiju

Maksimalno povećanje elektronskih mikroskopa sada prelazi 15 milijuna puta,
Godine 1931. M. Nohr i E. Ruska iz Njemačke modificirali su visokonaponski osciloskop s izvorom elektrona s hladnim katodnim izbojem i tri elektronske leće te dobili slike uvećane više od deset puta. Oni su izumili transmisijsku elektronsku mikroskopiju, koja je potvrdila mogućnost elektronske mikroskopije za pojačavanje slike. Godine 1932., s poboljšanjem Ruska, sposobnost razlučivosti elektronskih mikroskopa dosegnula je 50 nanometara, oko deset puta više od optičkih mikroskopa u to vrijeme, probijajući granicu rezolucije optičkih mikroskopa. Kao rezultat toga, elektronički mikroskopi počeli su privlačiti pozornost.
Godine 1940, Hill u Sjedinjenim Državama kompenzirao je rotacijsku asimetriju elektronskih leća astigmatizatorom, što je rezultiralo novim probojem u razlučivosti elektronskih mikroskopa i postupnim dosezanjem modernih razina. U Kini je 1958. godine uspješno razvijen prijenosni elektronski mikroskop s razlučivošću od 3 nanometra. Godine 1979. također je razvijen veliki elektronski mikroskop s razlučivošću od 0,3 nanometra.
Iako je rezolucija elektronskih mikroskopa daleko bolja od one optičkih mikroskopa, teško je promatrati žive organizme zbog potrebe rada u vakuumskim uvjetima, a zračenje elektronskim snopom također može uzrokovati radijacijsko oštećenje bioloških uzoraka. Ostala pitanja, poput poboljšanja svjetline elektronskog topa i kvalitete elektronske leće, također zahtijevaju daljnja istraživanja.
Emisioni skenirajući elektronski mikroskop
Glavna upotreba: Ovaj instrument ima ultra-visoku rezoluciju i može promatrati i obrađivati ​​slike sekundarnih elektrona i slike reflektiranih elektrona različitih morfologija površine krutih uzoraka. Opremljen rendgenskim energetskim spektrometrom visokih performansi, može istovremeno izvoditi kvalitativnu, polukvantitativnu i kvantitativnu analizu mikro točaka, linija i površinskih elemenata na površini uzorka, te ima sposobnost sveobuhvatne analize morfologije i kemijskih komponenti.
Kategorija instrumenata: 03040702/Instrumenti/Optički instrumenti/Elektronička optika i instrumenti ionske optike
Informacije o indikatoru: Razlučivost slike sekundarnog elektrona: 1,5 nm Ubrzani napon: 0-30kV Faktor pojačanja: 100-500000 puta Kontinuirano podesiva radna udaljenost: 5-35 mm Kontinuirano podesiv nagib: -5 stupanj ~ Spektrometar X-zraka od 45 stupnjeva: Rezolucija: 133 eV Raspon analize: BU
Podaci o privitku: instrument za pozlaćivanje i ugljik ISIS sustav za obradu slike sonda povratnog raspršenja
Emisiona skenirajuća elektronska mikroskopija, zbog svoje visoke razlučivosti, pruža pouzdano eksperimentalno sredstvo za proučavanje nanomaterijala. Uz to, dobivene su zadovoljavajuće slike i za poluvodičke materijale i za izolatore. Morfološka promatranja su provedena na supravodljivim tankim filmovima, magnetskim materijalima, tankoslojnim materijalima uzgojenim epitaksijom molekularnim snopom i poluvodičkim materijalima. Analiza sastava mikroregija provedena je na različitim materijalima i dobiveni su zadovoljavajući rezultati